超低阻抗表征利用锁相技术测量阻抗的原理
点击次数：986 更新时间：2021-06-15
超低阻抗表征的特征是：利用CR传输线模型中某个或者某些分支中电阻和电容的比值与电池扩散特征的关系表征电池，揭示电池扩散特征随荷电量SOC、温度、电化成阶段、电极中掺杂量和流动模式控制条件变化的关系。具有基本原理清楚、操作过程简单、数据处理便捷、结果客观可靠和无破坏性的优点，因而在科学研究和电池应用中具有重要价值。
超低阻抗表征利用锁相技术测量阻抗：
基于证明的锁定技术的MFLI。采用锁相技术的关键强度测量阻抗，同时测量DUT的相敏电压和电流。阻抗值由测量电压除以测量电流而同时考虑相位给出。采用两个基本测量电路中的一个来完成这个任务：一个有利于高阻抗的两端设置和一个适合大多数情况并且有利于低阻抗的四端电路。由于超级电容器将导致ESR占优势区域的低阻抗值，所以四端测量方法是合适的选择。
示意性设置；DUT由右侧的正弦信号电压驱动，测量DUT两端的电压降，同时左侧监测电流。另外两个引线连接到DUT的两侧以测量跨过的电压降。所有的电流都流过LCUR和HCUR连接器，而LPOT和HPOT是无电流的，并且用作电位的无创探针。这种四端装置有利于测量小阻抗，因为它对电缆、连接器、焊接点等中的串联阻抗的影响不敏感。
