耗散型石英晶体微天平的检测技术和主要功能特色
点击次数：913 更新时间：2021-04-15
耗散型石英晶体微天平基于耗散因子检测技术的界面跟踪探测系统进行分子与界面相互作用的研究，工作时，先将芯片放置于流动池中，将流动池固定于样品平台上，样品平台与电子单元和电脑主机连接，样品通过蠕动泵流经流动池中的芯片上方；
芯片振动状态与芯片上方物质的改变量，包括质量，厚度，密度和柔软程度有关，所以软件通过数学分析的方法可以获取芯片上方物质的这些变量。测定吸附层质量，并同步提供粘弹性等结构信息。
通过软件设置，电子单元对芯片两面施加一个电压随后断开，芯片发生振动、产生电信号并传输回电子单元，振动的频率和振幅记录在软件系统里；
当样品流经芯片上方，有物质吸附在芯片上或者将芯片上的物质冲走时，都会改变芯片的振动状态并被记录下来。
可测定多种不同类型表面的分子相互作用和分子吸附行为，同时可检测分子的结构变化以及吸附与解析的动态过程。
耗散型石英晶体微天平的主要功能特色：
(1)作为具有耗散因子检测功能的二代石英晶体微量天平，可以对多种不同类型表面的分子相互作用和分子吸附进行研究，应用范围包括蛋白质、脂质、聚电解质、高分子和细胞/细菌等与表面或与已吸附分子层之间的相互作用。
(2)可以测定非常薄的吸附层的质量，并同步提供如粘弹性等吸附层结构信息。非常灵敏和快速，可提供多个频率和耗散因子数据，用于充分了解在传感器表面吸附的分子的状态。
