阻抗型石英晶体微天平检测技术与特点说明
点击次数：1361 更新时间：2021-03-27
阻抗型石英晶体微天平基于耗散因子检测技术的界面跟踪探测系统进行分子与界面相互作用的研究，工作时，先将芯片放置于流动池中，将流动池固定于样品平台上，样品平台与电子单元和电脑主机连接，样品通过蠕动泵流经流动池中的芯片上方；
通过软件设置，电子单元对芯片两面施加一个电压随后断开，芯片发生振动、产生电信号并传输回电子单元，振动的频率和振幅记录在软件系统里；
当样品流经芯片上方，有物质吸附在芯片上或者将芯片上的物质冲走时，都会改变芯片的振动状态并被记录下来；
芯片振动状态与芯片上方物质的改变量，包括质量，厚度，密度和柔软程度有关，所以软件通过数学分析的方法可以获取芯片上方物质的这些变量。
测定吸附层质量，并同步提供粘弹性等结构信息。可测定多种不同类型表面的分子相互作用和分子吸附行为，同时可检测分子的结构变化以及吸附与解析的动态过程。
阻抗型石英晶体微天平的特点：
1．测量低、中、高频0.02～100MHz范围内石英晶体谐振频率、等效电阻。
2．第四代升级产品，频率电调谐，机内带可调负载电容。
3．频率数显，阻抗指针式显示。
4．频率测量精度≤5PPM，可选配更高精度频标。
5．可选配八位频率和四位PPM同时显示，频率上下限、分档分选功能。
6．上下限频率分别设置，超出范围（不合格）时自动声光报警。
